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晶硅PL/EL检测

产品简介

PL光致发光成像:无接触式测试,可帮助我们监测制程当中的异常,了解单结电池的面缺陷分布信息。EL电致发光成像:通过探针上电,可以分析电池的缺陷,尤其是电极和接触异常,属于接触式测试,适合测试成品电池片。

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PL光致发光成像:无接触式测试,可帮助我们监测制程当中的异常,了解单结电池的面缺陷分布信息。

EL电致发光成像:通过探针上电,可以分析电池的缺陷,尤其是电极和接触异常,属于接触式测试,适合测试成品电池片。


缺陷种类识别功能

智能EL/PL test系统,可根据缺陷种类进行识别定制,如黑斑、麻点、黑角、划伤等。


表体分离分析功能

辅助分析缺陷产生的位置和原因,施加偏置电场或改变载流子分布,可观察到主导复合的区域在发生变化。


光伏实验室和质量控制方面的全能型研发设备

势创智能PL/EL tandem是一台高级多功能成像设备,设备还包含以下功能:

• iVoc • Jo Mapping • Rs Mapping • 局部统计



产品规格
可测样品类型
原硅片、半成品电池和成品电池片、钙钛矿电池
可测样品尺寸
兼容10cm/21cm/23cm/30cm等尺寸
相机

高分辨率:6000万像素

高感光:100万像素

曝光时间:10微秒~30秒

可响应范围:400nm~1200nm

镜头:高清广角镜头

程控电压
0~30V(72v)
程控电流
0~10A
EL探针
上下两组探针排
PL光源
激光,长波808±5nm,短波450nm±5nm
测试功能

基础功能:EL成像、PL成像、Rs成像

高级功能:彩色Mapping:Jo分析、iVoc分析;Rs分析、体表分离


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