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晶硅钙钛矿叠层电池 PL/EL检测

产品简介

势创智能晶硅钙钛矿叠层电池 PL/EL检测一体机辅助分析缺陷产生的位置和原因,施加偏置电场或改变载流子分布,可观察到主导复合的区域在发生变化。

产品型号:
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       一、 基本功能

分类

用途

PL成像

无接触式测试,可帮助我们监测制程当中的异常,了解单节电池的面缺陷分布信息

 

EL成像

通过探针上电,可以分析电池的缺陷,尤其是电极和接触异常,属于接触式测试,只适

合测试成品电池片

1. 叠层1电池成像效果:

 


原图

彩图

PL成像效果

 

 

钙钛矿层

 

图片7.png

 

 

图片8.png

 

 

 

晶硅层

 

图片9.png

 


EL成像效果

 

 

钙钛矿层

 

图片10.png

 

 

图片11.png

 

 

 

晶硅层

 

图片12.png

 



2. 叠层2电池成像效果:

 


原图

彩图

PL成像效果

 

 

 

 

钙钛矿层

 

图片13.png

 

 

图片14.png

 

 

 

 

 

晶硅层

 

图片15.png

 


EL成像效果

 

 

 

钙钛矿层

 

图片16.png

 

 

图片17.png

 

 

 

 

晶硅层

 

图片18.png

 



二、表体分离功能

图片19.png图片20.png图片21.png

PL+偏置 正常PL 正常PL

(仅可观察到前表面复合

用途:辅助分析缺陷产生的位置和原因,施加偏置电场或改变载流子分布,可观察到主导复合的区域在发生变化。

缺陷片表体分离:

缺陷成因分析,蓝框部分为体缺陷(隐裂),红框部分为表缺陷(划伤或表面污染)

图片22.png

总体成 体与背面成

(体材料+背面

低效片表体分离:

低效片分析:通过表体分离成像,可发现在EL中不易发现的背体污染、黑边,可用于分析低效片成因。


 

图片24.png

 

总体成像   体与背面成像(体材料+背面

三、 缺陷种类识别定制功能

图片26.png图片27.png

可根据缺陷种类进行识别定制,如黑斑、麻点、黑角、划伤等例:黑斑麻点


总体成 体与背面成

成像分类

蓝框表缺陷区域

红框体缺陷区域

材料缺陷

总体成像

麻点

黑点

无显现

体与背面成像

无显现

黑点

同心圆可见轻微

结论

缺陷未贯穿,可分析成因

缺陷已贯穿,并有淡化现象

可回溯原材料异常


三、高级功能

1. 局部统计分析

图片28.png

主要用途:通过鼠标,框选感兴趣的区域进行统计分析(iVoc);

2. 高阶功能:iVoc Mapping

图片29.png图片30.png

Hot渲染iVoc (mv) Hot渲染iVoc(mv)

用途:彩色渲染由PL或EL图像生成Mapping图像,面分布信息一目了然;


四、技术规格

可测样品类型

半成品电池和成品电池片、钙钛矿电池

可测样品尺寸

兼容10cm/21cm/23cm/30cm等尺寸

硬件配置

相机:高分辨率:2500万像素;高感光:130万像素曝光时间:10微秒~30秒

可响应范围:400nm~1200nm

镜头:高清广角镜头:2

程控,恒流或恒压,电压范围:0~30V(72v),电流范围:0~10A

EL探针:上下两组探针排

PL光源:

光源:Laser,长波808±5nm,1组,短波450nm±5nm,1

测试功能

基础功能:EL成像、PL成像、Rs成像

高阶功能:

iVoc 分析:彩色Mapping

表体分离

辅助功能:彩色渲染

图像保存:压缩格式jpg或无损格式png

报表功能:记录每片样品数据,后台生成excel数据库光标追踪功能:实时显示每个像素点的测量值

局域统计分析,后台生成excel数据库

尺寸

1000*900*1600(长×宽×高),仅供参考,以实物为准

供电

单相,AC220V,50HZ

功率

额定:1000W,峰值:2000W

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