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势创智能隐裂检测模组SC-MC-W——为光伏产线隐裂检测打造的全场景高精度解决方案

更新时间:2026-04-10点击次数:

在光伏电池制造过程中,隐裂、崩边、硅落、缺角等微观缺陷是导致组件效率下降、可靠性降低甚至客诉退货的主要根源。如何在高速产线中精准、稳定地检出这些缺陷,成为光伏企业提升良率、降低成本的关键。

势创智能 推出的 隐裂检测模组 SC-MC-W,正是专为 产线隐裂检测 场景深度研发的高精度自动化检测设备。该模组创新集成了TFC方案、TFC+可见光方案、TFC+背光隐裂方案、明场背光隐裂方案、暗场背光隐裂方案等多种检测技术,融合NIR红外成像与AI智能算法,真正实现从硅料切片到电池制程全环节的 光伏隐裂检测 全覆盖。

隐裂检测模组

势创智能隐裂检测模组

一、多方案灵活切换,覆盖全工艺环节

不同工艺段、不同电池技术路线对检测方案的要求各异。SC-MC-W支持明场/暗场隐裂方案、TFC系列方案一键切换,无需额外调试,可快速适配PERC、TOPCon、HJT、xBC等主流及新型电池技术。

  • 硅料切片制造:精准识别隐裂、破片、硅落、崩边,保障来料质量。

  • 电池制程工序:覆盖制绒、扩散、镀膜、刻蚀、金属化等环节,采用暗场检测方案,有效规避传统方案成像不清、干扰大等问题。

  • 来料检测:对外购硅片、半成品电池片进行入库质检,杜绝不合格原料流入产线。

  • 高校/实验室:支持自定义检测参数,为缺陷机理研究、算法验证提供高精度成像数据。

二、高速高精度,完美匹配产线节拍

  • 产能 ≥6000片/小时,单片检测时间仅0.25~0.5秒,满足大规模连续生产需求。

  • 成像精度 ≥0.1mm/pixel,最小识别裂纹宽度>50μm,配合900~1700nm晶硅专用波长,可捕捉微小缺陷细节。

  • 兼容尺寸:支持156×156mm ~ 210×210mm(半片/整片),厚度160~200μm,无需更换适配组件。

  • 多分辨率可选:1k/4k像素NIR增强型InGaAs相机或4K线阵CMOS,曝光时间10μs~10s可调。

三、AI智能算法 + 缺陷溯源,助力质量闭环

设备内置自研AI检测软件,可自动记录缺陷位置、类型、尺寸,生成可追溯的检测数据报表,便于工艺人员定位问题根源、优化前道工序。成像数据支持导出,兼容第三方分析软件,满足生产统计与学术研究双重需求。

四、稳定可靠的软硬件支撑

  • 光源采用半导体激光(波长1100±5nm / 1300±5nm / 1450±5nm),光斑均匀性≥90%。

  • 手动对焦距离400~650mm,高清广角镜头(16/25/45mm可选,视场角≥80°)。

  • 工控计算机运算,Windows平台+标配AI软件,支持曝光时间、缺陷大小/长度/灰度等参数自定义。

  • 整机尺寸350×250×600mm,重量约20kg,单相AC220V供电,适应15~50℃环境。

五、应用图例与典型缺陷

设备可清晰成像隐裂、崩边、缺口、缺角、碎片、划伤、硅脱/硅落、穿孔等多种缺陷,并提供明场、暗场、TFC等多种成像模式图例,方便用户直观对比检测效果。

结语:势创智能隐裂检测模组SC-MC-W,以多方案灵活切换、高速高精度、AI智能溯源为核心优势,为光伏企业提供真正的一站式产线隐裂检测解决方案。如需了解更多技术细节或样机测试,欢迎联系势创智能团队。

  • 电子邮箱: wangzhi@mvcreate.com

  • 热线电话: 15950489233

  • 公司地址: 南京市江宁区长青街19号汇川大厦18层

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